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基于空間聚類的wafer bin合并方法

1190   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:37
本發明公開了一種基于空間聚類的wafer bin合并方法,涉及半導體制造業技術領域。通過空間聚類的方式,將構成同一失效模式的不同bin自動的進行合并,與此同時,具有混合失效模式的wafer bin map也能被分解為多個單一的失效模式,本發明相較于傳統的人工視檢減少了主觀判定,解決了按單bin分析時失效模式不完整的問題,為后續的良率根因中的共性分析提供了堅實的數據基礎。
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