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擾碼驗證方法

711   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:37
本發明公開了一種擾碼驗證方法,針對存儲器芯片的失效分析,包含:第一步,找出存儲器芯片設計版圖上存儲區冗余的行和/或列;第二步,針對找出的冗余的行和/或列上,將任意指定物理地址的單元位進行技術處理使之失效,記錄該失效的物理地址;第三步,進行電學測試分析,將冗余行和/或列內電學測試失效的單元通過邏輯運算公式得出其物理地址;若與記錄的失效物理地址比對一致,則驗證成功。本發明所述的擾碼驗證方法,無需通過物理手段破壞晶圓,任意在測芯片均可實時驗證,能大大縮短測試周期。 1
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