本發明公開了一種消除高安全智能卡芯片數據加解密對非易失存儲器可靠性測試影響的方法。針對數據加密后寫入存儲器的物理數據與編程預期數據不一致,在測試COS中嵌入預加解密函數,對數據進行預加解密處理,保證寫入存儲器的物理數據與預期數據一致。本發明提出的非易失存儲器物理數據模型測試方法,能夠覆蓋典型物理失效模式,有效地考核高安全智能卡芯片中非易失存儲器的本征可靠性水平。
聲明:
“非易失存儲器耐久力物理數據模型測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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