本發明提出了一種內存電壓拉偏測試系統,該內存電壓拉偏測試系統包括:電源模塊、降壓轉換器模塊、PMU模塊、內存模塊,其中,降壓轉換器模塊,分別與電源模塊和內存模塊連接,用于將電源模塊的輸入電壓降壓轉換為第一電壓,并且將第一電壓輸出至內存模塊;PMU模塊,與降壓轉換器模塊連接,用于調節第一電壓。本發明通過PMU模塊調節電壓轉換器的輸出電壓,從而提高了電壓拉偏的精度,也避免了人工重復修改反饋電阻造成的精度不高的問題,同時該測試也提高了內存測試的可靠性和穩定性測試,也避免后期服務器產品因電壓問題導致內存失效的情況。
聲明:
“內存電壓拉偏測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)