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閃存HTOL測試方法

912   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:22
本發明提供了一種閃存HTOL測試方法,包括:提供待測閃存,所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元;所述閃存參考單元中捕獲有空穴,所述空穴在HTOL測試過程中存在丟失;對所述閃存參考單元循環進行編譯和擦除,以在所述閃存參考單元中引入電子;對所述閃存進行HTOL測試,所述引入電子在所述HTOL測試過程中存在丟失,以對HTOL測試過程中所述空穴的丟失形成補償。降低了閃存參考單元的輸出電流Iref的偏移量,從而使閃存HTOL讀“0”通過,解決了閃存HTOL測試中讀點失效的問題,提高閃存質量。
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