本實用新型揭示了一種規?;酒詣訙y試裝置,具有營造芯片運行環境的控溫箱及穿接于控溫箱內外、連接電源與測試板的供電線路,其特征在于:該裝置設有在控溫箱內與所有待測芯片相連的總線,且總線通過線纜連至控溫箱外的上位機,形成上位機與各待測芯片的通信,所有待測芯片的狀態實時記錄于上位機的測試日志中。應用本實用新型該裝置,實現了節省人工,把芯片失效時間精確記錄到秒級,而且通過供電線路的開關控制和測試板級聯,分別提高了測試作業的安全性和規模擴展性。
聲明:
“規?;酒詣訙y試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)