本公開提供一種存儲器陣列的測試方法、裝置、設備及存儲介質,所述測試方法包括:將待測存儲器陣列中存儲單元的電容其中一個極板電壓調整至低電壓;按照第一預設方式向所述待測存儲器陣列中存儲單元存入大于預充電量的電荷;基于預設數據拓撲,將所述預設數據拓撲中數據按照第二預設方式向所述待測存儲器陣列執行預設讀寫操作;向所述待測存儲器陣列中存儲單元存入大于預充電量的電荷,讀取數據;根據讀取的數據和第一預設方式寫入數據,確定所述待測存儲器陣列是否正常。本公開對存入大于預充電量的電荷后的存儲器陣列執行預設讀寫操作,使得存儲器陣列中存儲單元的電容電壓不斷變化,提高電容極板漏電失效情況的暴露幾率。
聲明:
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