本發明提供一種塑封光電耦合器貯存壽命預測方法,它有以下七個步驟:一、確定敏感參數;二、明確物理加速模型;三、確定保持失效機理不變的溫度應力;四、開展加速壽命試驗;五、試驗數據預處理;六、估計物理模型中參數值;七、計算貯存應力下,塑封光耦的壽命。本發明構思新穎,程序簡約,可計算貯存狀態下塑封光耦的壽命,反應失效機理,可節約成本,解決傳統壽命預測不能保證失效機理一致的問題,它在元器件貯存壽命評價領域有廣闊的應用前景。
聲明:
“塑封光電耦合器貯存壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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