本發明提供一種存儲器裝置及其內置自測試方法,所述存儲器裝置包括自測試電路、存儲單元陣列、電源電壓產生器與列冗余地址替換電路。自測試電路,用以產生自測試數據信號與電源電壓控制信號。存儲單元陣列接收自測試數據信號并輸出自測試失效信號。電源電壓產生器依據電源電壓控制信號產生電源電壓。列冗余地址替換電路接收電源電壓與自測試失效信號以提供冗余字線地址至存儲單元陣列。電源電壓產生器被配置為使電源電壓在內置自測試模式小于一般模式。
聲明:
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