本發明公開了一種在并行測試機臺上實現芯片頻率微調的方法,在并行測試機臺的程序中將寫前一檔補正數據向量和讀下一檔讀時間向量合并為一個測試向量,得到多個測試向量,然后并行測試機臺依次執行所述多個測試向量,不斷循環直到同測對象集合中所有被測的芯片全部失效剔除或到循環結束,最后將為通過狀態的硬件寄存器對應的測試通道連接的被測芯片中最后寫入的芯片補正數據激活,各被測芯片中的時鐘周期微調電路根據最后寫入的芯片補正數據對時鐘周期進行微調。本發明能對多芯片進行頻率同測。
聲明:
“在并行測試機臺上實現芯片頻率微調的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)