本發明提供了一種基于功能安全的測試方法,包括以下步驟:S1、輸入待測安全模塊;S2、搜索芯片安全機制庫和功能安全測試用例庫;S3、選定待測安全模塊全部安全機制和測試用例表;S4、確定全部待測安全機制對應的故障模型和失效模式;S5、利用所述安全機制對應的故障模型和測試腳本模板文件,生成選定待測安全模塊的所有故障注入測試腳本。本發明有益效果:本發明是基于功能安全測試流程的要求,通過對芯片安全機制庫、功能安全測試用例庫、故障注入測試腳本庫和失效模式庫的建立,大大縮短了同類型芯片功能安全測試的時間,考慮了功能安全測試過程中應用的方法,給出了安全機制診斷覆蓋率導出方法。
聲明:
“基于功能安全的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)