本發明公開了一種測試系統,用以測試待測裝置,測試系統包括測試裝置以及雜訊產生模塊。測試裝置耦接于待測裝置,以形成耦接路徑,并用以通過耦接路徑輸出測試信號至待測裝置。雜訊產生模塊耦接于待測裝置與測試裝置之間的耦接路徑,并用以選擇性地干擾測試信號。本發明的測試系統可在測試時率先篩選出會因為雜訊干擾而運作失效的待測裝置以避免待測裝置在實際應用時因為雜訊干擾失效,且還可根據待測裝置在不同產品中的應用狀況進行客制化的測試。
聲明:
“測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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