本發明公開一種IPM可靠性測試方法,包括:向待測IPM施加第一預設偏置電壓,獲取IPM的第一漏電流并據此判斷其是否失效;若有效,則將測試溫度設置為第一預設溫度并施加第二預設偏置電壓;持續第二預設時長后,恢復至常溫靜態測試環境;向IPM施加第一預設偏置電壓,獲取IPM的第二漏電流;基于第二漏電流與IPM的極限漏電流,判斷IPM是否失效;若有效,則將測試溫度設置為第二預設溫度測試濕度設置為預設濕度并施加第三預設偏置電壓;持續第三預設時長后,恢復至常溫靜態測試環境;恢復至常溫靜態測試環境后,向IPM施加第一預設偏置電壓,獲取IPM的第三漏電流;基于第三漏電流與IPM的極限漏電流,判斷IPM是否失效。
聲明:
“IPM可靠性測試方法、裝置、系統及計算機存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)