本申請實施例提供一種確定芯片異常測試工況的方法、裝置、系統及相關設備,其中方法包括:獲取多個芯片組中至少兩個目標芯片組的測試數據,一個芯片組的測試數據包括用于測試的測試工況,以及在測試工況下進行多次測試對應的芯片失效數據;基于各個目標芯片組的測試數據,分別確定各個目標芯片組的芯片失效數據隨測試時間變化的關系數據;基于各個目標芯片組的關系數據,從至少兩個目標芯片組中確定異常芯片組,將異常芯片組的測試工況確定為異常測試工況。本申請實施例實現了高效、準確的確定芯片的異常測試工況,能夠為實現準確的芯片失效測試提供基礎。
聲明:
“確定芯片異常測試工況的方法、裝置、系統及相關設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)