本申請涉及一種光電探測器壽命評估方法、裝置。通過確定光電探測器的擊穿電壓以及位于光電探測器的工作電壓與擊穿電壓之間的多個第一測試電壓,在多個第一測試電壓一一對應的多個光電探測器組中各光電探測器滿足預設環境條件下,對各光電探測器施加對應的第一測試電壓,按照預設的時間間隔,獲取各光電探測器的暗信號值,進一步根據暗信號值以及預設失效暗信號值,確定各光電探測器的有效使用時長,從而根據有效使用時長以及多個第一測試電壓,確定壽命評估模型,實現對待評估光電探測器的壽命評估。由于光電探測器在失效機理方面對電場更加敏感,可以加快光電探測器的失效退化,確定壽命評估模型,從而實現對光電探測器壽命的快速評估。
聲明:
“光電探測器壽命評估方法、裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)