本申請涉及存儲器的設計與制造領域,具體而言,涉及一種存儲器測試方法、設備及系統。本申請實施例提供的存儲器測試方法,包括:根據上位機發送的測試方式指示信息,生成目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據,目標存儲區域位于被測存儲器中;針對目標存儲區域中的每個存儲位,將存儲位對應的測試數據寫入存儲位中;從目標存儲區域中的每個存儲位中讀取實際數據;對目標存儲區域中每個存儲位對應的測試數據和實際數據進行對比,獲得地址失效測試結果。本申請實施例提供的存儲器測試方法能夠實現被測存儲器的地址失效測試,且能夠保證被測存儲器的地址失效測試效率。
聲明:
“存儲器測試方法、設備及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)