本公開提供一種芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質,涉及芯片測試技術領域。該方法包括:分別按照多個測試模式中的各個測試模式對多個芯片進行測試,獲得各個測試模式對應的測試參數,測試參數包括測試時間信息和失效芯片信息,測試時間信息包括測試時長,失效芯片信息包括測試得到的失效芯片的數量;對于各個測試模式,根據測試得到的失效芯片的數量和測試時長獲得該測試模式的敏感度指標;基于各個測試模式的敏感度指標從多個測試模式中確定目標測試模式;對目標測試模式進行測試時長減少操作,獲得更新的目標測試模式,以按照多個測試模式對多個芯片進行測試。該方法實現了在不影響測試效果的前提下縮短芯片系統級測試的時間。
聲明:
“芯片測試方法、裝置、設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)