本發明提供一種電子產品的溫壓雙應力小樣本加速試驗壽命預測方法,其包括以下步驟:1、獲取失效數據并進行排序,確定失效數據所滿足的指數分布;2、計算并重新整理每個應力水平下的等效指數失效時間數據并進行排序;3、列出選定的信度水平并計算分位值;4、獲得選定信度水平下的應力?失效時間函數;5、獲得選定應力水平下的對數失效時間分位值;6、得到參數的最小二乘估計值,確定選定應力水平下的失效時間分布。本發明基于不確定理論通過矩模型實現指數分布參數估計,獲取等效指數失效時間數據,通過擴大樣本數量實現指數分布參數的修正,提高了小樣本條件下失效時間預測的精確性與收斂度。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)