本發明公開了一種帶存儲單元的集成芯片的復測方法,包括如下步驟:步驟一,通過讀取CP1通過標記,判斷芯片是否做過并完全通過上次CP1測試;若通過則測試繼續進行,若失效則測試結束,返回失效結果;步驟二,通過讀取CP2通過標記,判斷芯片是否做過并完全通過上次CP2測試;若通過則測試結束,返回通過結果;若失效則測試繼續進行;步驟三,通過讀CP2第一數據保存標記,判斷是否需要進行數據保存功能測試;若需要則測試繼續進行,若不需要則測試結束,返回失效結果;步驟四,通過寫及讀CP2第二數據保存標記,驗證CP2第二數據保存標記,以便復測時判斷數據保存功能是否失效。本發明能夠保證測試結果的準確性并節省復測時間。
聲明:
“帶存儲單元的集成芯片的復測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)