一種實時動態無損測試儲層zeta電位的方法,清潔處理二氧化硅半球樣品,放置二氧化硅樣品進入樣品池;啟動二次諧波光譜設備,并開始進行波數和能量檢查;首先測試二氧化硅半球單獨存在下去離子水和目標溶液的二次諧波光譜信號強度;放置儲層樣品進入樣品池,獲取總體樣品存在下的信號強度:測量的總體樣品信號強度減去二氧化硅樣品強度得到儲層的二次諧波樣品強度;二次諧波信號強度歸一化處理;進行儲層二次諧波的pH滴定實驗,獲取儲層等電點(pzc)性質,依次確定二階磁化率的大小χ(2);數學計算得到儲層的zeta電位;本發明能夠實時動態無損測試在任何溶液環境下儲層的zeta電位,彌補了以往zeta電位儀測量在高濃度和高pH值失效的不足。
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