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用于測試IC芯片的COB板

830   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:14
本實用新型涉及一種用于測試IC芯片的COB板,包括PCB板、焊接固定于所述PCB板上的引腳和金手指,所述PCB板上設有開口,所述金手指焊接于所述開口邊緣,所述IC芯片可以穿過所述開口。本實用新型可以實現做IC芯片失效分析時,可以看到IC芯片的背面,進而可以發現IC芯片背面的故障。
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“用于測試IC芯片的COB板” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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