本發明涉及芯片測試領域,提供一種用于經時擊穿測試的探針卡以及經時擊穿測試方法。所述用于經時擊穿測試的探針卡包括:印制電路板以及設置于所述印制電路板的探針,所述印制電路板設有用于輸入經時擊穿測試信號的輸入端,還包括限流元件,所述探針的第一端通過所述限流元件連接所述印制電路板的輸入端,所述探針的第二端用于輸出所述經時擊穿測試信號。本發明通過限流元件吸收器件柵氧化層被擊穿時的瞬間大電流,防止器件內部的其它結構被損壞(擊穿),這種情況下器件處于早期損壞,容易確定早期損壞故障點的位置,有助于確定可靠性失效的根本原因。
聲明:
“用于經時擊穿測試的探針卡及經時擊穿測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)