本實用新型公開了一種集成電路開短路測試系統,包括電源模塊、測試模塊、統計模塊、控制模塊和顯示模塊;所述電源模塊連接集成電路芯片,所述測試模塊的受控端連接所述控制模塊,測試模塊的測量端連接所述集成電路芯片,測試模塊的輸出端連接所述統計模塊,所述統計模塊連接所述顯示模塊。本實用新型可在顯示模塊上詳細顯示出集成電路的異常信息,開路或短路是哪個引腳,并統計該引腳開路或短路的次數,方便及時了解集成電路的不良情況并為集成電路的失效分析提供必要的依據。
聲明:
“集成電路開短路測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)