本發明提供了批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統及方法,其操作簡單方便,可批量對電子延期模塊進行帶電老化測試,從而降低產品的早期失效率,減輕人力工作量,并可實時監測工作狀態;批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統包括老化測試工裝,用于對至少一路待測樣品施加老化測試條件;采集裝置,與所述老化測試工裝之間相連接,用于對所述待測樣品進行電流采樣,并將電流采樣測試數據發送至上位機控制裝置;上位機控制裝置,與所述采集裝置之間通信連接,用于發送測試信號指令,接收所述采集裝置發送的電流采樣測試數據,對測試數據進行存儲分析,并對所述待測樣品進行實時狀態監測。
聲明:
“批量實現電子延期模塊老化實驗的測試系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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