本發明屬于生產檢驗技術領域,具體涉及一種關鍵檢驗特性缺陷率統計方法。與現有技術相比較,本發明提出一種關鍵檢驗特性缺陷率的統計方法,能夠區別對待各類檢驗特性對產品質量波動影響程度,同時提出了按照工序、產品、型號、單位四個維度進行統計的缺陷率統計裝置,以便能更準確評價某單位的產品質量缺陷率情況。本發明的關鍵檢驗特性缺陷率統計裝置按照失效程度對工序影響程度確定嚴酷度系數,實現缺陷率統計的加權系數,通過依次計算工序、產品、型號、單位缺陷值,并進行在線展示。
聲明:
“關鍵檢驗特性缺陷率統計方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)