本發明提供了一種測試數據深度溯源的方法,包括以下步驟:實時的從服務器上獲取與被測產品相關的信息;通過正則表達式讀取從所述服務器上獲取的所述信息,并將所述信息里的關鍵信息分類存儲,并繪制良率圖;根據所述良率圖獲取所述被測產品的良率、失效分布狀況、所述被測產品上失效芯片的具體失效信息以及所述被測產品上測試通過測試的芯片的具體信息。通過正則表達式對所述被測產品相關的關鍵信息進行分類存儲,并繪制良率圖,工程師可以根據良率圖很直觀的看出所述被測產品的良率及失效分布狀況;可以獲取所述被測產品上失效芯片的具體失效信息,提高失效分析的效率;還可以獲取通過測試的芯片的具體測試信息,提高正常的數據分析效率。
聲明:
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