本發明涉及一種芯片自動測試方法及系統,所述方法包括實時記錄被測試芯片在各測試時間點的各管腳的測試值;提取所述測試值;將所述測試值與期望值進行比較,并根據所述比較結果生成對比報告;根據所述對比報告定位所述被測試芯片的失效信息,所述失效信息包括失效管腳和所述失效管腳的失效時間點。本發明可以獲取全部失效管腳的失效時間點,便于根據失效管腳的失效時間點,對失效位置和失效原因進行定位分析,還可以通過設置不同的期望值等,對測試值進行全面的分析,給出更加詳細更加準確的測試結果,保證測試成功率。
聲明:
“芯片自動測試方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)