本發明公開了一種電子元器件失效原因定位方法,包括以下步驟:構建所述電子元器件的故障樹;利用故障樹到貝葉斯網絡之間的映射方法,將故障樹映射為貝葉斯網絡;將失效分析案例按照貝葉斯網絡的節點進行梳理,得到各個節點的案例統計信息;利用各個節點的案例統計信息,計算各個節點對應的后驗概率;通過所述電子元器件的失效現象找到后驗概率最大的節點對應的失效原因。本發明能夠直觀地得到造成失效現象的各個原因的發生概率,準確地對失效現象進行原因定位,提高失效分析的效率和準確性。
聲明:
“電子元器件失效原因定位方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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