本發明公開了一種基于連續激光源的集成電路失效定位系統及方法,包括:基于紅外激光器照射待測電路樣品,獲取所述待測電路樣品的掃描數據;基于紅外相機對所述待測電路樣品進行拍照,獲取電路布局圖;將所述掃描數據與所述電路布局圖進行對照,獲得失效定位點。本發明解決了集成電路阻性失效的失效點定位問題,實現了集成電路阻性失效和晶體管柵極破損的精確、快速定位。提高了集成電路失效定位的測試效率和定位精度,為集成電路失效分析的研究提供了技術支持。
聲明:
“基于連續激光源的集成電路失效定位系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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