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在線修改測試向量進行熱點分析的方法和系統

1133   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:34
本發明屬于電子技術領域,具體涉及一種熱點分析的方法和系統,包括:S1:將一失效芯片設置在一熱點分析設備使用的測試板上,并通過單片機推送一測試程序到所述失效芯片中,通過一示波器捕捉波形比對一自動測試設備波形,確認所述失效芯片正常運行的測試程序;S2:通過所述熱點分析設備對所述失效芯片進行一熱點分析。有益效果:實現了對失效芯片產品在自動測試狀態下進行熱點分析,提高了產品的檢出率,有效改善了芯片產品的生產質量。
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