本發明屬于電子技術領域,具體涉及一種熱點分析的方法和系統,包括:S1:將一失效芯片設置在一熱點分析設備使用的測試板上,并通過單片機推送一測試程序到所述失效芯片中,通過一示波器捕捉波形比對一自動測試設備波形,確認所述失效芯片正常運行的測試程序;S2:通過所述熱點分析設備對所述失效芯片進行一熱點分析。有益效果:實現了對失效芯片產品在自動測試狀態下進行熱點分析,提高了產品的檢出率,有效改善了芯片產品的生產質量。
聲明:
“在線修改測試向量進行熱點分析的方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)