本發明公開了一種基于故障注入的測試系統單粒子功能失效率的方法,其步驟為:(1)將被測系統進行功能模塊劃分;(2)在兩個同時運行的相同的被測系統中,對其中一個被測系統的一個功能模塊注入單粒子故障,同時輸出比較器采集兩個被測系統的輸出,進行比對;如果出現差異,則證明單粒子故障引起了被測系統的功能失效;如果沒有出現差異,則證明故障對被測系統未產生影響或者故障被容忍了;(3)在遍歷每個功能模塊的測試之后,根據每個模塊完成的故障注入次數和出現的功能失效次數計算出系統的功能失效率。本發明具有操作方便、簡單易行、準確性高等優點。
聲明:
“基于故障注入的測試系統單粒子功能失效率的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)