本發明一種DRAM晶圓測試中精確捕獲失效地址的方法,包括如下步驟,步驟1,針對DRAM晶圓測試流程中的任意功能測試項,給每個功能測試項分配一個變量,變量與功能測試項一一對應;步驟2,根據測試需求,對變量在晶圓測試開始后一次性賦值,控制是否捕獲對應測試項的失效地址;步驟3,在執行功能測試項并通過地址失效寄存器AFM記錄對應的失效地址后,根據當前測試項以及當前測試項的前一個測試項的變量賦值狀況,控制是否讀取地址失效寄存器AFM中的累積失效信息,并生成臨時文件;步驟4,通過對生成的臨時文件之間失效地址信息的比對,剔除掉重復的信息,最終生成當前測試項的失效地址文件。
聲明:
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