本發明公開了一種采用納米壓入測試技術預測薄膜疲勞失效的方法,屬于薄膜疲勞失效的預測方法。本發明的薄膜疲勞失效預測方法的具體步驟如下:采用磁控濺射技術制備組織均勻的薄膜;然后將薄膜放在納米壓痕儀上并設定載荷平均值、載荷幅值、加載頻率以進行測試;在測試過程中記錄薄膜的存數剛度隨時間的變化關系;通過分析實驗結果,找出數據中存數剛度變化的轉折點以得出薄膜發生疲勞失效的時間。本發明的薄膜測試中薄膜為鋁、鈦金、鋯、銀、鎳、鉬、硅或鈦鋁薄膜。本發明采用納米壓入測試技術預測薄膜疲勞失效的方法操作簡單,結果準確有效并且適應性強。
聲明:
“采用納米壓入測試技術預測薄膜疲勞失效的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)