本發明提供一種電子裝置失效測試裝置,包括偵測裝置,所述電子裝置用于:控制該偵測裝置對該電子裝置所處環境的參數值進行偵測;獲取該偵測裝置偵測到的環境參數值;確定該環境參數值是否超出預設范圍;若是,則對該電子裝置的內部元件及運行情況進行測試,并取得該電子裝置的測試數據;及將該電子裝置的測試數據和該偵測裝置偵測到的環境參數值與一失效數據庫中的數據進行比對從而判斷該電子裝置的失效原因,其中,該失效數據庫中包括導致電子裝置失效的環境參數值、電子裝置失效時的測試數據以及失效原因。本發明還提供一種測試方法。本發明能夠自動分析電子裝置失效原因且無需拆機。
聲明:
“電子裝置失效測試裝置及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)