本發明涉及一種電壓超調對介電失效/擊穿的影響的分析實驗估計器。一種方法測試集成電路器件以測量電壓超調狀況。所述方法確定超調時間比例。所述超調時間比例是在所述集成電路器件的整個有用工作壽命期間,發生電壓超調狀況的時間量相對于發生正常工作狀況的時間量。所述方法還確定超調失效比例。所述超調失效比例包括在所述電壓超調狀況期間發生的介電失效量相對于在所述正常工作狀況期間發生的介電失效量。所述方法基于所述超調時間比例和所述超調失效比例計算允許的超調電壓。所述方法附加地計算電壓波形的平均超調電壓并將所述平均超調電壓與所述允許的超調電壓進行比較,從而確定所述平均超調電壓是否超過所述允許的超調電壓。
聲明:
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