晶硅太陽(yáng)能電池的失效分析方法

本申請公開(kāi)了一種晶硅太陽(yáng)能電池的失效分析方法，包括測試失效的晶硅太陽(yáng)能電池的第一性能；去除所述晶硅太陽(yáng)能電池的正面和背面的金屬，露出減反射膜層和鈍化層，測量此時(shí)電池的第二性能，包括光學(xué)性能、電學(xué)性能和所述減反射膜層的厚度；去除所述晶硅太陽(yáng)能電池的正面和背面的減反射膜層和鈍化層，露出擴散層，測量此時(shí)的第三性能；去除所述晶硅太陽(yáng)能電池的正面和背面的擴散層，測量此時(shí)電池的第四性能；根據所述第一性能、所述第二性能、所述第三性能和所述第四性能分析出電池失效原因。上述方法能夠對電池進(jìn)行層層剖析，細節到針對每環(huán)工序去查找電池片低效的原因，達到量產(chǎn)增效的目的。