本申請公開了一種晶硅太陽能電池的失效分析方法,包括測試失效的晶硅太陽能電池的第一性能;去除所述晶硅太陽能電池的正面和背面的金屬,露出減反射膜層和鈍化層,測量此時電池的第二性能,包括光學性能、電學性能和所述減反射膜層的厚度;去除所述晶硅太陽能電池的正面和背面的減反射膜層和鈍化層,露出擴散層,測量此時的第三性能;去除所述晶硅太陽能電池的正面和背面的擴散層,測量此時電池的第四性能;根據所述第一性能、所述第二性能、所述第三性能和所述第四性能分析出電池失效原因。上述方法能夠對電池進行層層剖析,細節到針對每環工序去查找電池片低效的原因,達到量產增效的目的。
聲明:
“晶硅太陽能電池的失效分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)