合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 用于半導體器件失效分析的檢測方法

用于半導體器件失效分析的檢測方法

874   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:29
一種用于半導體器件失效分析的檢測方法,包括:利用聚焦離子束,對產生有缺陷的半導體器件剖面進行磨削,以改變源/漏區的表面性狀;利用腐蝕處理溶液,對所述半導體器件的剖面進行腐蝕,以顯露出源/漏區的結剖面形貌;利用放大成像裝置得到對應所述半導體器件的剖面的圖像資料,觀察所述圖像資料以獲取所述半導體器件所產生的缺陷的分布情況。本發明通過聚焦離子束磨削和腐蝕處理溶液腐蝕相結合,獲得易于觀察的半導體器件的源/漏區的結剖面形貌,提供判斷器件是否失效的依據。
登錄解鎖全文
聲明:
“用于半導體器件失效分析的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX