本發明屬于無損檢測技術領域,涉及一種單晶片和相控陣超聲組合探頭。其特征在于:包括中心單晶片探頭(1)和環形相控陣探頭(2),環形相控陣探頭(2)環繞在中心單晶片探頭(1)的外面。本發明提出了一種單晶片和相控陣超聲組合探頭,克服了超聲相控陣檢測近表面分辨力差的缺點,使其在具備超聲相控陣檢測高效、靈活等優點的同時,達到了較高的近表面分辨力。
聲明:
“單晶片和相控陣超聲組合探頭” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)