本發明公開了一種陣列式半導體激光器光譜分析儀,屬于近紅外無損檢測技術領域。該儀器包括光源半導體激光器、積分球、樣品杯、微處理器、鍵盤輸入與結果顯示裝置,計算機數據處理單元;所述的半導體激光器通過光纖與積分球連接,半導體激光器的光通過光纖進入積分球;所述的積分球包括集成于積分球壁上的光入射孔、探測器口和樣品杯入口,樣品杯由樣品杯入口與積分球連接;鍵盤輸入與結果顯示裝置置于儀器的外殼上,與微處理器相連。計算機數據處理單元通過USB接口與微處理器相連;積分球的外圓周上的探測器口上設探測器,探測器測出的光信號變化通過前置放大電路與微處理器相連。本發明的儀器可以實現對多種不同成分進行快速檢測。
聲明:
“陣列式半導體激光器近紅外光譜分析儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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