本發明涉及一種用于確定試樣表面附近區域(6;6a;6b;6c)中試樣(5;5a;5b;5c)的材料特性的裝置(1;1a;1b;1c)和方法,所述裝置具有用于照射試樣的至少一個表面區域(4;4a;4b;4c)的至少一個電磁輻射源(2;2a;2b;2c)以及用于檢測由表面區域發射的熱輻射(9;9a;9b)和/或用于檢測由試樣的表面區域(4;4a;4b;4c)反射的輻射(31)的檢測裝置(8;8a;8b;8c)。設有評估裝置(13;13a;13b;13c),方便地根據所發射的熱輻射(9;9a;9b)和/或所反射的輻射(31)測定待確定的材料特性。由此有利地實現了以特別可靠且無損的方式來確定材料特性。
聲明:
“用于確定試樣表面附近區域中試樣的材料特性的裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)