本發明提供一種精準推進探針的方法,該方法能夠對薄膜進行無損測量,尤其適用于半導體半導體薄膜,具體地,利用感應收縮簧的感應端超出導電彈性針頭的一定距離進行測距,并根據測距結果控制推進速度和時間,且能夠監測到探針與納米級厚度薄膜的接觸應力大小。該探針方法適合對半導體半導體薄膜進行無損、穩定、可重復的準確檢測,同時也適合推廣到其它薄膜材料的電學檢測。
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