一種橫向剪切干涉成像裝置,屬于激光干涉測量裝置,解決現有干涉測量裝置存在的問題,目的在于具備實時性和簡單條紋特性,使用時便于調配且不受強載頻影響。本發明包括在光路上依次位于同一條主光軸上的激光光源、擴束準直透鏡組和平行平晶;平行平晶入射波面法向與出射波面法向之間構成的偏轉角在0°~180°之間可調;擴束準直透鏡組口徑為40MM~100MM;平行平晶口徑為50MM~100MM、厚度為20MM~40MM。本發明元件少、安裝和調配過程簡單快捷、具備實時性、抗震性強,得到簡單的雙曝光干涉條紋,適用于光學領域的畸變波面以及工程熱物理領域的密度、濃度和溫度等參數的實時的無損檢測。
聲明:
“橫向剪切干涉成像裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)