本申請公開了一種應用拉曼光譜儀測試纖鋅礦結構單晶晶向的方法及系統。所述方法包括:提供拉曼光譜儀;使所述拉曼光譜儀光源射出的光線聚焦后作為入射光照射到纖鋅礦結構單晶樣品上,且所述入射光與散射光的偏振方向平行;在不改變所述入射光和散射光偏振方向的情況下,使所述樣品繞一旋轉軸旋轉,同時采集所述樣品的拉曼圖譜,所述旋轉軸選自與所述樣品的m軸、a軸、c軸相同或平行的軸線;依據所采集樣品的拉曼圖譜中的信號峰,確定相應的樣品單晶晶向。藉由本申請的方法,可以實現對纖鋅礦結構單晶(例如AlN單晶、GaN單晶等)晶向進行高空間分辨率的準確測試,且操作簡單便捷,對樣品無損傷,亦無需復雜設備和制樣工作,成本低廉。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)