本發明涉及一種基于麥穗尺度分析的冬小麥赤霉病高光譜遙感監測方法,與現有技術相比解決了赤霉病的遙感監測未針對麥穗尺度分析的缺陷。本發明包括以下步驟:高光譜遙感數據的獲??;數據預處理;構建小麥赤霉病指數;多元逐步回歸模型的建立;遙感監測結果的獲得。本發明利用敏感波段內一階微分總和的歸一化比值構建赤霉病指數后,建立其與病情嚴重度的一元線性回歸和多元逐步回歸模型,實現了小麥赤霉病的有效監測,為染病小麥赤霉病在冠層尺度以及田塊尺度上的無損診斷提供思路和依據。
聲明:
“基于麥穗尺度分析的冬小麥赤霉病高光譜遙感監測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)