本發明涉及一種基于二維拉曼光譜的顆粒粒度測量方法,包括:對于某種顆粒物質,選取已知顆粒粒度的各組顆粒物質,每組顆粒物質為相同顆粒粒度的顆粒物質,采集已知顆粒的各組顆粒物質的二維拉曼光譜;截取每組顆粒物質的特征拉曼譜峰;利用二維數據擬合方法獲取特征拉曼譜峰的數學表達式;提取特征拉曼譜峰的半峰寬度W;擬合出顆粒物質的顆粒粒度P與半峰寬度W之間的關系式;對于待測量顆粒粒度的此種顆粒物質,采集其二維拉曼光譜,按照上述二維數據擬合分析的步驟,得到其半峰寬度W,然后,根據顆粒物質的顆粒粒度P與半峰寬度W之間的關系式,實現顆粒粒度P的測量。本發明可以簡單、快速、無損地測量出物質的顆粒粒度。
聲明:
“基于二維拉曼光譜的顆粒粒度測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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