本發明涉及一種基于X射線照射投影技術的測量裝置,尤其是涉及一種測量光纜直徑以及光纜內部各部分的直徑的測量裝置。本發明的目的在于提供一種光纜測量裝置,透過設有的兩個互相垂直射出的X射線穿透所需要測量的光纜以及光纜內部各層結構,從而實現無損測量光纜以及光纜內部各層的內外徑,并且其測量精度高,操作簡單。一種光纜測量裝置,其特征在于,由第一發射管、第二發射管、第一接收板、第二接收板、圖像處理系統組成,所述第一發射管與第二發射管均能射出X射線,所述第一發射管射出的X射線與第二發射管射出的X射線呈垂直關系。
聲明:
“光纜測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)