本發明提供一種小型實用、低強度激光的動態光散射測量納米顆粒粒徑的方法和裝置,包括:用適當波長的單色激光輻照液體樣品產生散射光信號;梯度折射率單模光纖收集、傳輸散射光信號;單光子計數模塊記錄散射光子并轉換為電脈沖信號輸出;自相關器處理單光子計數模塊輸出信號;一種實現上述方法的裝置,包括:光源、起偏器、聚焦透鏡、雙層折射率樣品匹配池、光纖、單光子計數模塊、自相關器和計算機;本發明具有低強度激光測量,對樣品無干擾、無損傷,能快速、準確測量納米顆粒粒徑,以及裝置結構簡單緊湊,小型實用,適合于現場監測的優點。
聲明:
“低強度激光動態光散射測量納米顆粒粒徑的方法及其裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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