本實用新型公開了一種微波器件測試用扭環,涉及半導體器件測試技術領域。扭環外環壁的橫截面為圓形,扭環內環壁的橫截面為六邊形,且與微波器件測試夾具輸入、輸出的同軸接頭端子外形尺寸相適配,所述扭環的材質為聚四氟乙烯材料。本實用新型采用了帶有網紋結構的聚四氟乙烯扭環,成功解決了測試夾具在測試過程中存在的連接不緊密的問題,保證器件測試穩定性、準確性及無損性,其制作成本低,易實現,保證了相關科研生產順利進行。
聲明:
“微波器件測試用扭環” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)