本發明提供了一種測量葉片面積的方法以及裝置,該方法包括獲取待測葉片的第一圖像信息;根據所述第一圖像信息自動調整參數后,獲取所述第一圖像信息中所述純色矩形背景板的四條邊的線性方程;基于所述線性方程,得到所述純色矩形背景板的四個頂點的位置信息;將所述第一圖像信息進行仿射變換,使得所述四個頂點與預先生成的標準圖像的四個頂點匹配,得到第二圖像信息;獲取所述待測葉片在所述第二圖像中的面積,并基于所述第二圖像信息,所述待測葉片在所述第二圖像中的面積以及所述第一圖像信息,得到所述待測葉片的面積。通過該方法,能夠保證測量過程中葉片無損,且測量過程不受場地的限制,也無需進行標定。
聲明:
“測量葉片面積的方法以及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)