一種微帶測試納米薄膜微波電磁參數裝置,涉及材料電磁參數的檢測。設有微帶夾具、微波矢量網絡分析儀、GPIB數據采集卡、計算機;微帶夾具由L型底座、上導帶、可調短路片、SMA連接頭、屏蔽罩和固定平臺構成;L型底座一端設圓孔,另一端設臺階;可調短路片兩端開槽;SMA連接頭安裝于L型底座上,SMA連接頭與微波矢量網絡分析儀的同軸電纜連接,被測納米薄膜樣品放置位置為輸入端與可調短路片的中心位置;微帶夾具鎖定在固定平臺上,固定平臺的四角裝有高度可調的支撐桿,固定平臺面上均勻刻上標有刻度的一組水平線,在固定平臺上鎖定兩片彈簧卡片,兩片彈簧卡片分別放置在微帶夾具的終端與側面。測量精確、無損傷、操作簡便。
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